IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering 2024

Description

Bienvenue à la Conférence Internationale IEEE sur la Métrologie pour la Réalité Étendue, l'Intelligence Artificielle et l'Ingénierie Neuronale 2024. Cet événement prestigieux réunit des experts, des chercheurs et des passionnés pour discuter des dernières avancées et découvertes dans ces domaines dynamiques. Que vous souhaitiez approfondir vos connaissances, vous connecter avec des professionnels partageant les mêmes idées ou présenter votre travail, cette conférence offre des opportunités inégalées. Restez à la pointe des domaines en constante évolution de la XR, de l'IA et de l'Ingénierie Neuronale en faisant partie de cette conférence innovante et informative.