15 - 18 Jul 2024
IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing 2024
China
Shanghai
Horaires
09:00 AM-06:00 PM (expected)
Frais d'entrée
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Participation estimée
Delegates
Type d'événement
Conference
Description
La 6e Conférence internationale IEEE sur les tests d'intelligence artificielle (IEEE AITest 2024) explorera l'intersection de l'IA et des tests logiciels. Faisant partie du congrès IEEE CISOSE 2024, cette conférence accueille des soumissions d'articles provenant du monde académique et de l'industrie.
